Introduction to MRS Power Semiconductor Testers


ÜBER­BLICK


 

  • Für Pro­duk­ti­on, Qua­li­täts­si­che­rung und F&E: sta­ti­sche Pa­ra­me­ter, Dy­na­mik- und Leis­tungs­test
  • hoch­ge­naue Mes­sun­gen mit 16 Bit Auf­lö­sung
  • Zu­sätz­li­che Son­der­tests wie Sta­bi­li­tät eines Pa­ra­me­ters (z.B. Delta IR), ther­mi­sche Im­pe­danz ZTH mit Ap­pro­xi­ma­ti­ons­funk­ti­on etc.
  • µC-Sys­tem mit TI TMS320C6701 high end floa­ting point DSP
  • Di­gi­ta­le Si­gnal­ver­ar­bei­tung für über­ra­gen­de Ge­nau­ig­keit
  • große Schnel­lig­keit:
    • sehr schnel­les Ein­re­geln der Quel­len
    • kon­ti­nu­ier­li­che AD-Wand­lung mit 100 kS/s
    • wenig Over­head im Pro­gramm­ab­lauf für kurze Zy­klus-Zei­ten
  • 4-Draht-Mes­sung bei allen Hoch­strom­kon­tak­ten, Kon­tak­tier-Check
  • frei pro­gram­mier­bar durch den An­wen­der
  • Mul­ti­ple­xer ver­füg­bar für Tests von kom­ple­xen Tei­len (z.B. Um­rich­ter­mo­du­le mit meh­re­ren Leis­tungs­halb­lei­tern, zus. Sh­unts, Tem­pe­ra­tur­füh­lern etc.)
  • Win­dows-ähn­li­che Be­nut­zer­ober­flä­che auf einem Stan­dard PC
  • Schnitt­stel­len für Hand­ler-Steue­run­gen, SPS-An­bin­dung