MRS Electronic bietet eine Vielzahl an unterschiedlichsten Testsystemen an. Zu den Leistungen gehören dabei sowohl die individuelle Entwicklung, als auch die Inbetriebnahme der fertigen Anlagen bei Ihnen , und das weltweit. Im Testsystemsegment bietet MRS unter anderem folgende Testmethoden an:
Da alle Module von MRS-Systemen modular aufgebaut sind, kann MRS für Sie individuelle Systeme bauen, ganz nach Ihren Wünschen.
Seit Jahren arbeitet MRS mit Lieferanten für die Herstellung kundenspezifischer Handling-und Kontaktsystemen zusammen.
Messung aller Dioden-Parameter mit Strom:
Handhabungssystem
Messung aller Parameter der Power-Dioden in einem Halbbrücken/Gleichrichter
Handhabungssystem - Vollautomatische oder manuelle Stationen
Messung aller Parameter der FET´s auf den Modulen (bis zu 900A)
Messung aller Parameter der IGBT´s auf dem Modul (bis zu 900A)
Volle Integration in ein vollautomatisches Handlingsystem
RBSOA / SCSOA Prüfung
Je nach Qualitätsstandard bei der Herstellung verschiedener IGBT-und MOSFET-Modultypen wird ein RBSOA-und SCSOA-Test durchgeführt. Die Systempalette reicht von Stand-Alone-Laborsystemen mit manueller Fütterung bis hin zur Bewertung von DUTs während des Entwicklungsprozesses bis hin zu voll automatisierten Schichtbetrieb-Produktionslinien.
Für RBSOA-und SCSOA-Tests ist es wichtig, dass der Prüfling während des Schaltens einen echten Belastungstest durchläuft und der Prüfling nicht nur ein-und ausgeschaltet wird.
Um einen echten Belastungstest zu erreichen, müssen mehrere Kriterien erfüllt sein, wie
Vorteile:
Aktuelle Zyklustests bis 300 A
Die Prüflinge sind auf wassergekühlten Kühlkörper montiert. Der Prüfling wird mit hohen Stromimpulsen bis zu einer bestimmten Temperatur angetrieben. Wird diese Temperatur erreicht, wählt das Schaltfeld den nächsten Prüfling aus und heizt ihn auf. Nach einem Zyklus wird die Temperatur des ersten Prüflings gemessen. Falls die Temperatur noch zu hoch ist, wird der Prüfling übersprungen. Der Kühler und die Kühlkörper prüfen das, sodass nach einem Zyklus das erste Teil fast wieder auf seine Starttemperatur gesunken ist und neu gemessen werden kann.
Für eine kontinuierliche Qualitätskontrolle bei der Herstellung von verschiedenen elektronischen Halbleitern werden thermische Zyklus-Tests durchgeführt. Während dieser Prüfung werden elektronische Halbleiter durch Stromimpulse mit einer bestimmten Frequenz erwärmt. In diesem Beispiel werden 16 Gleichrichterdioden mit einem Strom bis zu 200 A gleichzeitig gepulst.
Die Vorwärtsspannung wird kontinuierlich gemessen, bis die Spannung unter einen bestimmten Wert sinkt, welcher für die Temperatur innerhalb der Gleichrichterdiode steht. Anschließend wird die Gleichrichterdiode auf einen vorgegebenen Vorspannungs-Startwert abgekühlt und der Test wird wiederholt
Diese Langzeittests laufen mehr als 500 Stunden.
Vorteile:
Alle Prüfsysteme entsprechen dem CE-Standard und werden gemäß der Spezifikation der Maschinenrichtlinie 2006 / 42 / EG gebaut:
Sie haben eine Anfrage zu unseren Testsystemen? Dann schreiben Sie eine E-Mail oder rufen uns an unter der Nummer +49 (0) 741 2807 1135 an.