Системы тестирования

Тестовые системы для силовых полупроводников

MRS Electronic предлагает большое количество разнообразных испытательных стендов. Мы также предлагаем услуги по индивидуальной разработке тестовых систем и ввод их в эксплуатацию на Ваших предприятиях по всему миру. В сегменте тестовых систем MRS предлагает следующие методы тестирования:

  • Системы тестирования параметров силовых диодов
  • Системы тестирования FET-модулей (полевые транзисторы)
  • Системы тестирования  IGBT-модулей (биполярные транзисторы с изолированным затвором)
  • Системы тестирования параметров полумостовых  и выпрямительных схем (силовые диоды)
  • Термоциклическая тестовая система
  • Динамическая тестовая система для FET-модулей
  • Динамическая тестовая система для IGBT-модулей
[Translate to русский язык:] Power Semiconductor Testers

Индивидуальные тестовые системы

Поскольку тестовая система MRS строится по модульному принципу, мы можем разрабатывать индивидуальные системы в соответствии с Вашими требованиямию

Компания MRS имеет многолетний опыт совместной работы с производителями конвейерных линий по установки систем подачи и тестирования силовых диодов и полупроводников.

  • Для маленьких партий товара
  • Для больших партий товара
  • С механической маркировкой
  • С лазерной маркировкой
  • Со струйной маркировкой

Описание отдельных методов:

Системы тестирования параметров силовых диодов

Измерение всех параметров диода,включая Мощность

  • Vz temp. compensated
  • IR / DIR temp. compensated
  • Vf (mA)
  • Vf (Power)
  • dVf (ZHT)

Система обработки

  • Bunker
  • Feeder
  • Headwire straightener station
  • Cutting station
  • Measuring of cutting length
  • Measuring station
  • Marking station
  • Good / waste sorting

Система тестирования параметров полумостовых и выпрямительных схем (силовые диоды)

Измерьте все параметры силовых диодов в полумосте/выпрямителе.

  • Vz temp. compensated
  • IR / DIR (with leakage current compensation)
  • Vf (mA)
  • Chipfactor
  • dVf (Loading)

Система обработки - полностью автоматизированная или ручная станция

  • With exchangeable adapter-system
  • marking
  • Good/waste differentiation
  • Waste Box with Sensor

Системы тестирования FET- модулей (полевые транзисторы)

Измерьте все параметры  на FET-модуле (до 900 A).

  • VSD diode
  • BVDSS
  • IDSS (forward/reverse) with leakage current compensation
  • DIDSS (forward/reverse) with leakage current compensation
  • IGSS / DIGSS
  • VGSTH
  • RDSON
  • ZTH, ZTH loop
  • C-Capacitor
  • R-Resistor
  • R-Shunt

Интегрированные лавинные испытания (лавинные испытания с VBAT макс. 90 В пост. тока).

Полная интеграция в автоматизированную производственную линию

Системы тестирования IGBT- модулей (биполярные транзисторы)

Измерьте все параметры  на IGBT-модуле (до 900A).

  • VSD diode
  • VCE, VCESAT
  • ICES (forward/reverse) with leakage current compensation
  • DICES (forward/reverse) with leakage current compensation
  • IGES / DIGES
  • VGSTH
  • ZTH, ZTH loop
  • C-Capacitor
  • R-Resistor
  • R-Shunt

Полная интеграция в автоматизированную производственную линию

Динамическая тестовая система для IGBT-модулей

RBSOA / SCSOA Тестирование

В зависимости от стандартов качества при производстве различных типов модулей IGBT и MOSFET выполняется тест RBSOA и SCSOA. Диапазон систем простирается от автономных лабораторных систем с ручной подачей для оценки DUT во время процесса разработки до полностью автоматизированных производственных линий. Для тестов RBSOA и SCSOA важно, чтобы тестируемое устройство проходило реальное стресс-тестирование во время переключения, а не просто включало и выключало тестируемое устройство.

Чтобы пройти настоящий стресс-тест, необходимо выполнить несколько критериев:

  • Очень низкая паразитная индукция всей системы
  • Регистрация данных с максимально возможной периодичностью и точностью для дальнейших анализов результатов, таких как:
    • Значение du / dt
    • Значение di / dt
    • Время переключения
    • Напряжение на клеммах
    • Пиковые напряжения
    • Ток коллектора
    • Напряжение на затворе
  • Полная прослеживаемость каждого DUT для последующего анализа, сохраняя данные измерений в базах данных, при необходимости загружая их в сеть компании.
  • Пример контактного блока 600 В / 2000 A RBSOA и 600 В / 8000 А SCSOA с опцией обнаружения короткого замыкания
  • Интеграция в полностью автоматизированную производственную линию


Достоинства:

  • Измерительное оборудование адаптировано для каждого продукта, чтобы получить максимально возможную точность
  • Настраиваемая связь по постоянному току для каждого DUT, чтобы минимизировать ESL
  • Индивидуальная стадия Gatedrive
  • Связь с блоком проверки, чтобы убедиться в правильности подключения проверяемого устройства перед подачей высокого напряжения
  • Мультиплексор сигналов для тестируемых устройств в полумостовой конфигурации, чтобы сэкономить деньги и пространство вместо использования второго осциллографа
  • Опция обнаружения короткого замыкания позволяет предотвратить неконтролируемый разряд постоянного тока в систему во время сбоя проверяемого устройства, тем самым предотвращающая сваривание проверяемого устройства с контактами и ненужное техническое обслуживание контактного блока.

Циклическая тестовая система высоким током

Испытания током до 300 А

  • Возможно тестирование параметров
  • DVF-измерение
  • Время теста до 1000 часов
  • Чиллер для водяного охлаждения
  • 10 чиллеров (с водяным охлаждением) для 10 полумостовых тестовых образцов
  • 10 точек измерения температуры Typ-K

Тестируемые образцы устанавливаются на радиаторах с водяным охлаждением. Затем с помощью импульсов высокого тока нагревается один из образцов до заданной температуры. Когда заданная температура достигнута, система управления выбирает следующий образец и начинает нагревать его. После одного цикла измеряется температура первого проверяемого устройства, и если температура все еще слишком высока, проверяемое устройство будет пропущено. Чиллер и радиаторы выбираются так, что после одного цикла первый образец возвращается к своей начальной температуре и может быть повторно измерен.

Термоциклическая тестовая система

Для постоянного контроля качества при производстве различных электронных полупроводников проводятся термоциклические испытания.

Во время этого теста электронные полупроводники нагреваются за счет импульсов тока с заданной частотой. В данном примере 16 выпрямительных диодов одновременно тестируются импульсным током до 200 А.

Прямое напряжение измеряется непрерывно, пока напряжение не упадет ниже заданного значения, которое соответствует температуре внутри диода выпрямителя. Затем выпрямительный диод охлаждается до заданного начального значения прямого напряжения и испытание повторяется.

Данные испытания проводятся в течение более чем 500 часов.

Преимущества:

  • Индивидуальная классификация напряжения и тока в зависимости от спецификации клиента
  • Циклы испытаний могут программироваться Клиентом
  • Контактные блоки разрабатываются индивидуально для каждого тестируемого изделия

Директивы по машиностроению

Все испытательные системы соответствуют стандарту CE и спроектированы в соответствии с требованиями Директивы по машиностроению 2006/42 / EG

  • DIN-EN 60204
  • DIN EN ISO 12100
  • DIN EN ISO 13849
[Translate to русский язык:] [Translate to English:] CE Richtlinie Testsysteme
[Translate to русский язык:] [Translate to English:] EU Flagge konform Tester

У вас есть запрос на наши тестовые системы? Напишите письмо или позвоните нам по номеру +49 (0) 741 2807 1135.

 

Связаться с отделом тестирования

Написать E-Mail